【光熙博士生学术论坛讲座】

讲座人：郭耀华 博士生

题目：面向复杂工业环境的产品缺陷检测关键技术研究

时间：2026年11月19日15: 00-16: 00

地点：L1118

讲座内容：

本报告面向复杂工业环境下的产品表面缺陷检测需求，针对无标签数据污染、类别动态变化、计算存储资源受限及跨域泛化能力不足等挑战，重点介绍可靠缺陷感知、持续学习与知识保持、轻量化检测、跨域泛化及多模态语义理解等关键技术，探讨人工智能技术在工业质量检测与智能运维领域的应用前景。